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面板单位根检验理论的最新发展
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发布日期:2008年05月03日 上次修订日期:2008年05月03日

摘要

本文综述近期(1995-2005)面板单位根检验理论分析。理论发展是从部门独立的单位根检验到部门依赖单位根检验。同时部门独立的单位根检验又是从微观面板即同质面板单位根发展到异质面板单位根检验。并指出在未来发展中面板数据的不稳定性导致的伪回归及对协整检验及协整方程估计尤其是部门依赖的协整检验及估计是一个重要的有待解决的问题。
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黄旭平 面板单位根检验理论的最新发展 (2008年05月03日) https://www.cfrn.com.cn/lw/11783

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